背景介绍
手机天线测试背景
1:4G手机:天线主集、分集、三合一,传统测试方 案2~3块天线板可以兼顾射频测试;
2:5G手机:多天线单元设计数量高达十几副,且分 布密集,传统方案天线不能满足一站式测试需求;
5G-FR1
分站测试方案:利用传统屏蔽箱进行分站测 试,通过分站来实现5G手机多天线的兼顾。 换机型,维护调试难度大;
阵列天线方案:利用阵列天线组合自动点检 最佳辐射功率,满足5G手机、平板等一站式 测试。
设备说明
支持线损自动计算和测试分开进行:
• 自动完成多个通道线损测算后,将最优线损获取并进行保存;
• 测试过程,对线损计算点检记录进行分析后代入实际频点,进行TX和RX测量;
控制方式:USB接口控制,PC直接调用驱动完成射频开关切换控制;
阵列天线盒+射频开关 可作为一个成熟模块,放置在工厂已有屏蔽箱内(简单改造)直接工作;
3D解析
工作频率
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0.6Ghz~6Ghz(扩展至8.5GHz) |
S11
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<-6 dB (0.7-6 GHz),<-2.5 dB (600-700 MHz)
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天线尺寸
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98 mm*98 mm*122 mm
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增益
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6-8 dBi (2.5-6 GHz);3-6 dBi (1.5-2.5 GHz);
1-3 dBi (0.6-1.5 GHz).
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Isolation
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>40 dB (0.9-6 GHz), >35 dB(600-800 MHz).
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极化 |
V&H or +45 deg.
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射频端口
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SMA(f)
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阻抗
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50Ω
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验证数据
一致性测试(取重要的几个频点,同一个位置1台压测50次数据):波动小于0.5dB
坏机验证:超出客户规定范围,可检测出来
结论&开发周期
结论
• 不良品验证结论:100%检测出产线真实不良品。
• 测试数据CP/CPK:CPK测试数据集中,一致性好。
• 调试时间、更换时间对比:阵列天线不需要调试,维护方便。
• 低频、高频线损说明:支持采用较近远场距离(>30mm)模拟远场测试,高频相对于原来的老屏蔽箱天线测试线损要大一些,但对测试结果不产生影响,更能检测出天线坏机。
开发周期
• 阵列天线:2周
• 射频测试设备:成熟产品2周内交货(特殊类3-4周)
附录:阵列天线&传统屏蔽箱
对比维度
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阵列天线(测试5G手机) |
传统单点测试屏蔽箱(测试5G手机)
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外观尺寸 |
小,兼容性强
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大
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天线板位置
调试
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不需要
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需要
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测试效率
UPH
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一个屏蔽箱条件下(如测试总时间60s):
UPH≈60/H
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一个屏蔽箱条件下(如测试总时间60s):
UPH≈30/H
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设备间线损
一致性
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< 3 dB
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> 5 dB
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成本
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低
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高
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蜂窝(含
sub6G 5G)
&非蜂窝工
站二合一
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支持
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困难
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开发周期
(包括货期)
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短,换线换机型维护时间15分钟内
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长,换线换机型维护时间至少1小时以上,如是
新5G机型,预计1天左右
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软件开发
周期
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短
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长
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天线装配
一致性
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一种配置刻度
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手机机型不同,测量天线位置不同
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附录:阵列天线&混响室
对比维度
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阵列天线 |
混响屏蔽箱
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外观尺寸 |
小,兼容性强
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大
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天线板位置
调试
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不需要
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不需要
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测试效率
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在相同测试项条件下,UPH高(算法不一样)
每次测试只采集一次数据
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在相同测试项条件下,UPH低(算法不一样)
每次测试需要多天线采集数据
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设备间线损
一致性
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> 3 dB |
> 3 dB
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成本
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低
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高
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蜂窝(含
sub6G 5G)
&非蜂窝工
站二合一
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支持
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支持 |
开发周期
(包括货期)
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短
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长
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软件开发
周期
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短
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长
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